高壓介質(zhì)損耗測試儀/承裝承試設(shè)備

標(biāo)題：高壓介質(zhì)損耗測試儀/承裝承試設(shè)備

產(chǎn)品概述

產(chǎn)品概述：

高壓介質(zhì)損耗測試儀/承裝承試設(shè)備，是發(fā)電廠、變電站等現(xiàn)場或?qū)嶒炇覝y試各種高壓電力設(shè)備介損正切值及電容量的高精度測試儀器。儀器為一體化結(jié)構(gòu)，內(nèi)置介損測試電橋，可變頻調(diào)壓電源，升壓變壓器和SF6 高穩(wěn)定度標(biāo)準(zhǔn)電容器。測試高壓源由儀器內(nèi)部的逆變器產(chǎn)生，經(jīng)變壓器升壓后用于被試品測試。頻率可變?yōu)?5Hz或55Hz，55Hz或65Hz，采用數(shù)字陷波技術(shù)，避開了工頻電場對測試的干擾，從根本上解決了強(qiáng)電場干擾下準(zhǔn)確測量的難題。同時適用于全部停電后用發(fā)電機(jī)供電檢測的場合。該儀器配以絕緣油杯可測試絕緣油介質(zhì)損耗。

高壓介質(zhì)損耗測試儀/承裝承試設(shè)備技術(shù)參數(shù)：

1.準(zhǔn) 確 度：Cx：±（讀數(shù)×1%+1pF）
            Tgδ：±（讀數(shù)×1%+0.00040）
2.抗干擾指標(biāo)：變頻抗干擾，在200%干擾下仍能達(dá)到上述準(zhǔn)確度
3.電容量范圍：
1)內(nèi)施高壓：3pF～60000pF/10kV 60pF～1μF/0.5kV
2)外施高壓：3pF～1.5μF/10kV 60pF～30μF/0.5kV
4.分 辨 率：0.001pF，4位有效數(shù)字
5.tgδ范圍：不限，分辨率0.001%，電容、電感、電阻三種試品自動識別。
6.試驗電流范圍：10μA～1A
7.內(nèi)施高壓：設(shè)定電壓范圍：0.5～10kV
1)zui大輸出電流：200mA
2)升降壓方式：連續(xù)平滑調(diào)節(jié)
3)試驗頻率：45、50、55、60、65Hz單頻
            45/55Hz、55/65Hz、47.5/52.5Hz自動雙變頻
4)頻率精度：±0.01Hz
8.外施高壓：正接線時zui大試驗電流1A，工頻或變頻40-70Hz
            反接線時zui大試驗電流10kV/1A，工頻或變頻40-70Hz
9.CVT自激法低壓輸出：輸出電壓3～50V，輸出電流3～30A
10.測量時間：約40s，與測量方式有關(guān)
11.輸入電源：180V～270VAC，50Hz±1%，市電或發(fā)電機(jī)供電
12.計算機(jī)接口：標(biāo)準(zhǔn)RS232接口
13.打 印 機(jī)：煒煌A7熱敏微型打印機(jī)
14.環(huán)境溫濕度：-10℃～50℃；<90%
15.尺寸重量：460×360×350mm；28kg

注意事項：

如果使用中出現(xiàn)測試數(shù)據(jù)明顯不合理，請從以下方面查找原因：

1．搭鉤接觸不良

現(xiàn)場測量使用搭鉤連接試品時，搭鉤務(wù)必與試品接觸良好，否則接觸點放電會引起數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動！尤其是引流線氧化層太厚，或風(fēng)吹線擺動，易造成接觸不良。

2．接地接觸不良

接地不良會引起儀器保護(hù)或數(shù)據(jù)嚴(yán)重波動。應(yīng)刮凈接地點上的油漆和銹蝕，務(wù)必保證0電阻接地！

3．直接測量CVT或末端屏蔽法測量電磁式PT

直接測量CVT的下節(jié)耦合電容會出現(xiàn)負(fù)介損，應(yīng)改用自激法。

用末端屏蔽法測量電磁式PT時，由于受潮引起“T形網(wǎng)絡(luò)干擾”出現(xiàn)負(fù)介損，吹干下面三裙瓷套和接線端子盤即可。也可改用常規(guī)法或末端加壓法測量。

4．空氣濕度過大

空氣濕度大使介損測量值異常增大（或減小甚至為負(fù)）且不穩(wěn)定，必要時可加屏蔽環(huán)。因人為加屏蔽環(huán)改變了試品電場分布，此法有爭議，可參照有關(guān)規(guī)程。

5．發(fā)電機(jī)供電

發(fā)電機(jī)供電時輸入頻率不穩(wěn)定，可采用定頻50Hz模式工作。

6．測試線

由于長期使用，易造成測試線隱性斷路，或芯線和屏蔽短路，或插頭接觸不良，用戶應(yīng)經(jīng)常維護(hù)測試線；

測試標(biāo)準(zhǔn)電容試品時，應(yīng)使用全屏蔽插頭連接，以消除附加雜散電容影響，否則不能反映出儀器精度；

自激法測量CVT時，非的高壓線應(yīng)吊起懸空，否則對地附加雜散電容和介損會引起測量誤差。